基于XRD优选硅质物料的方法及其应用[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：基于XRD优选硅质物料的方法及其应用专利类型：发明专利

发明人：任雪红,张文生,叶家元,董刚,张洪滔,汪智勇申请号：CN201710518773.2申请日：20170629公开号：CN1073709A公开日：20171124

摘要：本发明提供了一种基于XRD优选硅质物料的方法及其应用。测定方法包括，研磨硅质物料；采用XRD衍射仪对所述的物料进行测试；计算其中石英(101)晶面衍射峰的绝对强度与总峰强的比值R；将XRD数据扣除CuK衍射，并去背底处理后绘图，得到石英(101)面衍射峰的峰位θ和半高宽Δθ，同时将XRD数据进行归一化处理，计算石英(101)面XRD衍射峰强度积分面积A；计算所述的硅质物料的惰性系数Ds，Ds＝R/(A*Δθ*COSθx)。本发明提供的测定方法，可用于对硅质物料的品质进行判定，有利于对物料进行合理选择。

申请人：中国建筑材料科学研究总院

地址：100024 北京市朝阳区管庄东里1号

国籍：CN

代理机构：北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙)

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