专利名称:利用反射式达曼光栅的超短脉冲测量装置专利类型:实用新型专利发明人:周常河,戴恩文申请号:CN200520046814.5申请日:20051123公开号:CN2861993Y公开日:20070124
摘要:一种利用反射式达曼光栅的超短激光脉冲测量装置,包括分束延时器、会聚镜、非线性晶体、光阑和光谱仪,其特征在于所述的分束延时器是由三快1×2反射式达曼光栅和两块挡光板立体配置而构成的反射式达曼光栅分束延时器,所述的会聚镜是一反射式会聚镜。本实用新型是一种全反射式超短激光脉冲测量装置,解决了超短激光脉冲测量过程由于光束透过介质而产生的超短脉冲展宽的问题,具有结构简化、调节方便和仪器成本低的特点。
申请人:中国科学院上海光学精密机械研究所
地址:201800 上海市800-211邮政信箱
国籍:CN
代理机构:上海新天专利代理有限公司
代理人:张泽纯
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