一种频率器件老化率测试装置及测试方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种频率器件老化率测试装置及测试方法专利类型：发明专利

发明人：李丕宁,方忠有,朱辉,李浩,孙仲秋申请号：CN201310084060.1申请日：20130315公开号：CN103217600A公开日：20130724

摘要：本发明公开了一种频率器件老化率测试装置，其包括有计算机、频率计、铷原子频率源及多层测试架，每层测试架上设有器件测试板及测试控制板，所述器件测试板包括有多个器件座，所述测试控制板各自具有唯一的地址码，其中，每个测试控制板包括有一4514译码器及多个选通开关，所述计算机发送选位指令至4514译码器的选位端，4514译码器的多个输出端分别连接于多个选通开关的控制端，多个器件座的输出端分别连接于多个选通开关的输入端，多个选通开关的输出端相互连接后再连接至频率计的输入端，频率计将测试结果以电信号的形式发送至计算机，并由计算机计算出每个频率器件的老化率K。本发明具有生产效率高和数据准确性好的优势。

申请人：深圳市三奇科技有限公司

地址：518000 广东省深圳市龙岗区坪地街道年丰第三工业区第一栋

国籍：CN

代理机构：深圳市精英专利事务所

代理人：李新林

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