一种用于芯片生产的测试系统[发明专利]

来源：好走旅游网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：一种用于芯片生产的测试系统专利类型：发明专利

发明人：沈晓亮,韩泉栋,沈彩平,吕笑天,高兴龙申请号：CN202011091417.5申请日：20201013公开号：CN112180240A公开日：20210105

摘要：本发明涉及测试系统，具体涉及一种用于芯片生产的测试系统，包括控制器、芯片分类测试机构、待测芯片，以及设于芯片分类测试机构、待测芯片上的身份标识，控制器与用于将待测芯片放入芯片分类测试机构或从芯片分类测试机构上拾取待测芯片的芯片拾取机构相连，控制器与用于识别身份标识的标识识别模块相连，标识识别模块通过识别角度调节机构安装于芯片拾取机构上；本发明提供的技术方案能够有效克服现有技术所存在的不能确保测试装置的工作状态、无法对待测芯片进行测试流程的有效监管、无法确定待测芯片是否与测试装置匹配的缺陷。

申请人：合肥泽延微电子有限公司

地址：230000 安徽省合肥市高新区望江西路800号合肥创新产业园A1楼507室

国籍：CN

代理机构：合肥律众知识产权代理有限公司

代理人：赵娟

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