一种基于表面波的垂直缺陷的多系数深度检测方法[发明专利]

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专利名称：一种基于表面波的垂直缺陷的多系数深度检测方法专利类型：发明专利发明人：何存富,白金峰,邓鹏申请号：CN201610195694.8申请日：20160330公开号：CN107024535A公开日：20170808

摘要：一种基于表面波的垂直缺陷的多系数深度检测方法，属于超声导波无损检测与评估领域。表面波在传播过程中，同缺陷互相作用时在缺陷下方会有散射的体波，体波传播遇到工件的下端面会反射回来，遇到缺陷会再度转换为表面波如(也就是模态转换回波)并沿缺陷两端传播，其同缺陷回波的时间差即为横波在工件厚度方向传播的总路程。缺陷两端的模态转换回波同缺陷回波以及透射波综合可以作为缺陷深度的表征参数，多系数的垂直缺陷的深度检测方法解决了目前对于大于0.45倍波长缺陷深度的检测带来了不准确性和不适用性。在健康监测和无损评价领域，具有极大的应用价值和潜力。

申请人：北京工业大学

地址：100124 北京市朝阳区平乐园100号

国籍：CN

代理机构：北京思海天达知识产权代理有限公司

代理人：沈波

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