一种原位测量的电容层析成像系统[发明专利]

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专利名称：一种原位测量的电容层析成像系统专利类型：发明专利

发明人：刘又清,金忠,何峰,张龙赐,何迎辉申请号：CN201911044130.4申请日：20191030公开号：CN110672678A公开日：20200110

摘要：本发明公开了一种原位测量的电容层析成像系统，包括测量管路、柔性电路板和多个电容极板；多个所述电容极板圆周分布在所述测量管路的管壁上；所述柔性电路板安装于所述测量管路的管壁上且靠近于各所述电容极板，各所述电容极板通过引线电极与所述柔性电路板相连。本发明的电容层析成像系统具有减少杂散电容、体积小、测试精度以及空间分辨率高等优点。

申请人：中国电子科技集团公司第四十八研究所

地址：410111 湖南省长沙市天心区新开铺路1025号

国籍：CN

代理机构：湖南兆弘专利事务所(普通合伙)

代理人：廖元宝

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