专利名称：单一ADC采集通道动态特性测试方法专利类型：发明专利发明人：刘鑫,张光宇,董增寿申请号：CN201710396322.6申请日：20170531公开号：CN107102255A公开日：20170829
摘要：一种单一ADC采集通道动态特性测试方法，属于电子测量领域。测试流程为对激励信号进行采样，获得观测样本；确定频率搜索边界，频率选择点，计算频率选择点对应的最小二乘残差，确定基频信号的模型；估计信噪谐波比SINAD和有效位数ENOB；构建残差序列矩阵，计算其协方差矩阵，进行特征分解，在相应谱峰的邻域搜索计算谐波频率，估计谐波幅值；估计信号非谐波比SNHR、无杂散动态范围SFDR和总谐波失真THD。本发明首次采用时‑频域分析与空间谱分析相结合的方法，准确估计观测样本中包含的激励信号，噪声成分以及谐波失真成分，能有效改善频谱分析存在的频谱泄露和栅栏效应，算法估计精度高，运算量小，便于硬件实现。
申请人：太原科技大学
地址：030024 山西省太原市万柏林区瓦流路66号
国籍：CN
代理机构：太原市科瑞达专利代理有限公司
代理人：王思俊
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