专利名称：偏振测量方法、偏振测量装置、偏振测量系统及光
配向照射装置
专利类型：发明专利
发明人：石飞裕和,川锅保文,齐藤行正,浅见英一申请号：CN201310303088.X申请日：20130718公开号：CN103575400A公开日：20140212
摘要：本发明提供一种偏振测量方法、偏振测量装置、偏振测量系统及光配向照射装置，用于高精度地测量偏振光的偏振特性。偏振测量方法包括：基于使检测侧偏振器转动的同时测得的依次透过了检测线栅偏振器及检测侧偏振器的光在各转动角度下的光的光量，求解表示所述检测侧偏振器旋转时的所述光量的周期性变化的变化曲线；以及在基于该变化曲线确定透过了所述线栅偏振器的偏振光的偏振特性时，基于所述转动角度下的所述光量，求解所述变化曲线；其中所述转动角度（θ）包含在包含所述变化曲线的构成一个极小点的转动角度（θ）＝（θa）且所述光量（I）为规定值以下的所述转动角度（θ）的范围（Ｗ）内。
申请人：岩崎电气株式会社
地址：日本东京
国籍：JP
代理机构：北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人：杨黎峰
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容